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校準過(guò)程重要，但是校準結果的確認一樣重要，對于校準結果的確認，需要從各個(gè)數據和校準方式著(zhù)手。校準完成以后，取下開(kāi)路元件，正確的校準方式下，測試曲線(xiàn)會(huì )在Smith Chart的開(kāi)路點(diǎn)，其次就是對負載校準特性的檢查，校準后連接好測試端口和負載件。

這些方面可以作為校準網(wǎng)絡(luò )分析儀的參考標準，如果企業(yè)自身就具備較為的人員，以及體系比較完善的校準方案，可以從這幾個(gè)方面來(lái)進(jìn)行操作，如果并具備這樣的條件和能力，也可以讓第三方校準機構來(lái)處理，具體方案可以根據企業(yè)需求來(lái)制定。

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視頻作者：天津國電儀訊科技有限公司

反射特性是被測件反射與輸入激勵的相對比值， 網(wǎng)絡(luò )分析儀要完成該項測試，需分別得到被測件輸入激勵信號和測試端口反射信號。

網(wǎng)絡(luò )分析儀內部信號源負責產(chǎn)生滿(mǎn)足測試頻率和功率要求的激勵信號，信號源輸出通過(guò)功分器均分為兩路信號，一路直接進(jìn)入R接收機，另一路通過(guò)開(kāi)關(guān)輸入到被測件相應測試口，所以，R 接收機測試得到被測輸入信號信息。

激勵信號輸入到被測件后會(huì )發(fā)射反射， 被測件端口反射信號與輸入激勵信號在相同物理路徑上傳播，定向耦合器負責把同個(gè)物理路徑上相反方向傳播的信號進(jìn)行分離，提取反射信號信息，進(jìn)入A接收機。

無(wú)論在研發(fā)還是在生產(chǎn)制造中，工程師們在測試射頻元件時(shí)都面臨許多重大挑戰。在研發(fā)過(guò)程中，更快并以較少的重復工作來(lái)解決設計難題至關(guān)重要。生產(chǎn)制造過(guò)程中，需要在保持精度和產(chǎn)出率的同時(shí)，縮短測試時(shí)間和降低測試成本。

減緩壓力的方法之一是使用靈活的高度綜合的測試解決方案――如Agilent N5242A PNA-X微波網(wǎng)絡(luò )分析儀。由于PNA-X的先進(jìn)體系結構，它不僅提供的性能和精度，而且還能針對超越與網(wǎng)絡(luò )分析儀相關(guān)的傳統散射參數（S參數）的各種測量進(jìn)行配置。一些內置組件（如第二個(gè)信號源和寬帶合路器）能對射頻和微波器件，尤其是放大器、混頻器和變頻器的非線(xiàn)性特性進(jìn)行非常的表征，讓您對這些器件的性能有更加的了解。